當前標簽：大連實驗(yan)臺(tai)柜機構
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大連實驗臺柜靜電放電引起的放電電流，可導致諸如半導體元件等破壞和誤動作，例如將50塊P-MOS電路放在塑料袋內，搖晃數次后，與非門柵極嚴重擊穿者計39塊，失效率競達78%，這是因為半導體器件對靜電放電十分靈敏。指標都用A聲級來評價。在50
